溫度沖擊試驗箱

冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱*可根據用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱*溫度控制
可實現溫度定值控制和程序控制；
全程數據記錄儀（可選功能）可以實現試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用國際流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調節壓縮機制冷功率，較傳統的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關鍵配件均采用國際知名品牌產品，使設備的整體質量得到了提升和保證；
冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱*設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 軍用裝備實驗室環境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗

型號
				TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W	TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W	TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W	TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W
標稱內容積（升）				80	150	200	300
試驗方式				氣動風門切換2溫室或3溫室方式
性能	高溫室	預熱溫度范圍		＋60～＋200℃
		升溫速率※1		＋60→＋200℃≤20分鐘
	低溫室	預冷溫度范圍		－78－0℃
		降溫速率※1		＋20→－75℃≤80分鐘
	試驗室	溫度偏差		±2℃
		溫度范圍		TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
		溫度恢復時間※2		5分鐘以內
試樣擱架承載能力				30kg
試樣重量				7.5kg	7.5kg	10kg	10kg
內部尺寸（mm）			W	500	600	750	850
			H	400	500	500	600
			D	400	500	600	800
外形尺寸（mm）※4			W	1460	1560	1710	1880
			H	1840	1940	1940	2040
			D	1500	1600	1700	1900
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉時的性能。
※2恢復條件：室溫為＋25℃和循環水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）

 冷熱沖擊試驗箱規格表(Programmable Thermal Shock Tster)